ASTM E170-2010 辐射测量和剂量测定相关标准术语
时间:2024-05-15 17:52:46 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:9470
【英文标准名称】:StandardTerminologyRelatingtoRadiationMeasurementsandDosimetry
【原文标准名称】:辐射测量和剂量测定相关标准术语
【标准号】:ASTME170-2010
【标准状态】:现行
【国别】:美国
【发布日期】:2010
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:E10.93
【标准类型】:(Terminology)
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Radiationexposure--nuclearmaterials/applications;Radiationmeasurement;Terminology--nuclear;Dosimetry
【摘要】:
【中国标准分类号】:F74
【国际标准分类号】:01_040_17;17_240
【页数】:9P.;A4
【正文语种】:英语
基本信息
标准名称: | 半导体分立器件 2CZ5550~5554型硅整流二极管详细规范 |
英文名称: | Semiconductor discrete device-Detail specification for silicon rectifier diodes for Types 2CZ5550 through 2CZ5554 |
中标分类: |
矿业 >>
矿业综合 >>
技术管理 |
发布部门: | 中国电子工业总公司 |
发布日期: | 1992-11-19 |
实施日期: | 1993-05-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
提出单位: | 中国电子工业总公司科技质量局 |
归口单位: | 中国电子技术标准化研究所 |
起草单位: | 中国电子技术标准化研究所和国营八七三厂 |
起草人: | 金贵永、刘东才 |
出版社: | 电子工业出版社 |
出版日期: | 1993-04-01 |
页数: | 9页 |
适用范围
本规范规定了2CZ5550~5554型硅整流二极管(以下简称器件)的详细要求。该种器件按GJB33《半导体分立器件总规范》定,提供产品保证的三个等级(GP、GT和GCT级)。
前言
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引用标准
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所属分类: 矿业 矿业综合 技术管理
基本信息
标准名称: | CCJ-1A、B、C型精密电容测量仪检定方法 |
中标分类: |
综合 >>
计量 >>
无线电计量 |
发布日期: | |
实施日期: | 1992-10-01 |
首发日期: | |
作废日期: | |
出版日期: | |
适用范围
没有内容
前言
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引用标准
没有内容
所属分类: 综合 计量 无线电计量